更新時間:2024-06-13
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,航天,電氣 |
物理實驗設(shè)備的產(chǎn)品特點
1.半導(dǎo)體能帶理論、載流子運動規(guī)律的實驗展示:示波器上觀察動態(tài)顯示的光電導(dǎo)變化信號,有助于直觀理解過剩載流子的產(chǎn)生、復(fù)合過程。
2.工業(yè)標準檢測儀器測試原理和方法的教學(xué)呈現(xiàn):儀器參照國家標準設(shè)計制造,內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視、直觀,重點突出教學(xué)內(nèi)容。
3.是太陽能電池原理實驗的有益補充。
4.激光光源和微波均在樣品臺下方,故在放置樣品時,不會對處于樣品臺上的樣品形成視覺阻擋或干擾。
5.可對光強或光子面密度進行定量調(diào)節(jié),進而可定量地研究光強對測量復(fù)合壽命的影響,及驗證S-R-H模型的正確。
實驗內(nèi)容
1.研究表面鈍化對復(fù)合壽命測量的影響
2.研究注入水平對復(fù)合壽命測量的影響
3.驗證S-R-H模型的正確性并推算少子壽命
4.計算非平衡載流子的擴散系數(shù)和擴散長度
5.測量復(fù)合壽命的分布(選做)
知識點:非平衡載流子的產(chǎn)生和復(fù)合、復(fù)合壽命、少子壽命、表面復(fù)合、愛因斯坦方程、擴散長度。
物理實驗設(shè)備的技術(shù)指標
本實驗裝置主要是由數(shù)字式硅片少子壽命實驗儀、鈍化劑、P型硅片、N型硅片等組成。
1.工作條件:溫度0℃~40℃;相對濕度≤90%RH;大氣壓力86kPa~106kPa;電源電壓~220(1±10%)V,電源頻率~50(1±5%)Hz。
2.復(fù)合壽命測量范圍:0.5us~30ms。
3.電阻率下限:≤1.0Ω?cm。
4.測量重復(fù)性:3%。
5.數(shù)字式硅片少子壽命實驗儀
(1)微波中心頻率:10.5GHz。
(2)脈沖激光:中心波長905nm,安裝于樣品臺下方,光強可調(diào)節(jié)。
(3)激光電源:脈寬200ns,頻率30Hz,下降沿≤50ns。
(4)樣品臺:含二維刻度尺,范圍均為?80mm~+80mm,分度值1mm,帶紅外濾光片,下方安裝激光源和微波源。
(5)光子面密度:4位數(shù)字顯示,旋鈕定量調(diào)節(jié),單位:1013光子數(shù)/cm2,可定量地研究光強對測量復(fù)合壽命的影響和驗證S-R-H模型。
(6)電源:~220V/50Hz。
6.鈍化劑:100mL、濃度0.08mol/L碘乙醇鈍化劑。
7.硅片盒:用于放置P型、N型硅片,6英寸透明圓盒,尺寸Φ180×43mm。
8.專用實驗軟件:
(1)具有用戶自定義修改配置文件的功能,以匹配不同的示波器。
(2)具有數(shù)據(jù)導(dǎo)入,數(shù)據(jù)或曲線導(dǎo)出功能。
(3)具有實驗數(shù)據(jù)自動計算功能,方便使用者快速得到實驗結(jié)果(如注入水平、復(fù)合壽命等)。
(4)具有指數(shù)曲線擬合、線性擬合功能,并能自動計算出擬合參數(shù)。
(5)在衰減曲線圖形界面,可根據(jù)需要顯示或隱藏原始數(shù)據(jù)或擬合數(shù)據(jù),以及重要的參數(shù)點。
(6)具有錯誤提示功能,并給出可能的錯誤原因。
(7)實驗輔助功能,軟件集成實驗說明書和軟件使用手冊,方便使用者在PC端快速查閱。
(8)軟件可生成實驗報告,結(jié)合學(xué)生信息錄入功能,方便進行教學(xué)管理。
產(chǎn)品組成
序號 | 名稱 | 編號 | 數(shù)量 | 備注 |
1 | 數(shù)字式硅片少子壽命實驗儀 | 1套 | 含電源線1件 | |
2 | 鈍化劑 | 1件 | 含滴管1件 | |
3 | 收納盒 | 1件 | ||
4 | N型硅片 | 1片 | ||
5 | P型硅片 | 1片 | ||
6 | 同軸線 | 2件 | 兩端BNC頭,線長1000mm | |
7 | 硅片蓋 | 1件 | ||
8 | 光盤 | 1件 |
用戶自備設(shè)備
1.40MHz數(shù)字存儲示波器(通道數(shù)≥2)1臺/套
2.電腦至少每個實驗室1件(要求:P4雙核或以上檔次CPU、內(nèi)存2G或以上、MicrosoftExcel2003或以上版本、WindowsXP/SP3、Windows7、8、10操作系統(tǒng))
選配件
無
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